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故障树分析（FTA）与事件树分析（ETA）：通过构建故障树或事件树模型，系统地分析导致产品失效的各种因素及其相互关系，找出主要的失效路径和原因。
电子电气：电子元器件的失效往往涉及复杂的物理和化学过程，失效分析在诊断电子产品的故障原因、优化电路设计等方面具有重要意义。
智能化与自动化：随着人工智能、大数据等技术的广泛应用，失效分析将更加智能化和自动化。通过智能算法和数据分析技术，可以更快速、更准确地定位失效原因和提出改进措施。
跨学科融合：失效分析将更加注重跨学科融合和交叉创新。物理学、化学、材料科学、计算机科学等多个学科的知识和技术将相互渗透和融合，为失效分析提供更加全面和深入的理论支持和技术手段。
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