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电位诱发衰减效应（PID，PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。高温、高湿、高盐碱的沿海地区易发生PID现象。
SNI光伏组件标准：SNI IEC 61215-1:2016 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 第1部分 测试要求
SNI IEC 61215-1:2016 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 第2部分 测试程序
SNI IEC 61215-1:2016 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 第1-1部分 晶体硅组件测试要求
SNI管控组件范围
所有出口到印尼的海关编码(HS code)为8541.40.22的晶体硅光伏组件获得SNI认证，并打上SNI标识。薄膜组件暂时不在SNI强制范围内。
